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更新時(shí)間：2024-11-19 15:41:20瀏覽次數(shù)：25次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 百分零部件網(wǎng)熱電材料測(cè)試系統(tǒng) CTA-4
塞貝克系數(shù)/電阻分析系統(tǒng) CTA-4
鄭重承諾：甄選供貨商，保證系統(tǒng)品質(zhì)達(dá)到！
堅(jiān)決不做低價(jià)、減配、低品質(zhì)的經(jīng)濟(jì)版本和精簡(jiǎn)版等系統(tǒng)，維護(hù)國(guó)內(nèi)用戶(hù)的利益！
熱電材料測(cè)試系統(tǒng)CTA-4系統(tǒng)是在CTA-3S系統(tǒng)的基礎(chǔ)上優(yōu)化了電路控制技術(shù)和軟件的易用性，為拓展新功能和可選模塊提供了硬件和軟件的基本架構(gòu)。
技術(shù)特點(diǎn)：
· 可控溫場(chǎng)下可同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率
· 標(biāo)準(zhǔn)配置進(jìn)口高級(jí)商用吉時(shí)利（Keithley ）數(shù)采儀表，避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差
Keithley技術(shù)：
100nV rms 噪音本底
直流電壓靈敏度低至 10nV，基本精度為 0.002%（90天）
7ppm DCV 可重復(fù)性，基本 1 年 DCV 準(zhǔn)確度：0.0028%
讀取速度范圍：2k 讀數(shù)/秒；
溫度分辨率：0.001℃；
交流電壓分辨率：0.1μV
電阻分辨率：1 μΩ
電流分辨率：1nA
低功耗歐姆測(cè)量模式
弱電流電路測(cè)試功能
偏置補(bǔ)償歐姆功能
檢定低壓元件又快又準(zhǔn)確
提高測(cè)量精度的置信度
以低至 100μA 的源電流測(cè)量低阻抗，減少設(shè)備自發(fā)熱
進(jìn)行電阻測(cè)量時(shí)控制測(cè)試電壓，避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜
消除會(huì)在系統(tǒng)環(huán)境中進(jìn)行低電平電阻測(cè)量時(shí)產(chǎn)生錯(cuò)誤的熱效應(yīng)
提供更精確的低電阻測(cè)量
· 標(biāo)配進(jìn)口高級(jí)商用電流源（ADCMT），非電路板集成恒流源，避免無(wú)法精準(zhǔn)輸出小電流而產(chǎn)生熱效應(yīng)和測(cè)不準(zhǔn)
· 恒流源參數(shù)：0.000-220mA；恒流設(shè)置分辨率：100nA；恒流穩(wěn)定性：0.008+20nA/天
· 溫度范圍：RT up to 1150℃
· 光波爐加熱技術(shù)，潔凈加熱不污染樣品和無(wú)揮發(fā)性，對(duì)操作者安全健康；整體水路設(shè)計(jì)和鍍金處理，無(wú)水垢堵塞問(wèn)題，終身免維護(hù)
· 控溫速率：0.01 –100K/min，可以節(jié)約用戶(hù)測(cè)試時(shí)間
· 配置垂直放樣結(jié)構(gòu)，上下樣品支架夾持（三明治），精確控制溫度差
· 測(cè)量范圍：賽貝克系數(shù)：0.5μV/K-25V/K；電阻率：0.2μOhmm-2.5KOhmm
· 0-80K溫差范圍可任意設(shè)置溫差值及溫差點(diǎn)的個(gè)數(shù)
· U-I曲線(xiàn)自動(dòng)掃描，計(jì)算出合適的電流數(shù)值， 可以精確測(cè)量電導(dǎo)率；不會(huì)對(duì)大電阻樣品產(chǎn)生誤差
· 鉑金大電極設(shè)計(jì)，和樣品可充分接觸，對(duì)于不均勻樣品也可獲得良好的導(dǎo)電測(cè)試
· 熱電偶間距可以根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)后固定，滿(mǎn)足不同科研要求
· 精度：賽貝克系數(shù)：±7 %；電導(dǎo)系數(shù)：±10 %（熱電材料測(cè)試，非康銅標(biāo)樣）；
· 重復(fù)性：3%
· 高級(jí)應(yīng)用程序控溫技術(shù)，包括溫差和測(cè)量步進(jìn)等高級(jí)要求
· 自由升/降溫、可精確控制溫度程序，進(jìn)行升溫、恒溫與降溫過(guò)程中的數(shù)據(jù)測(cè)量
· 熱電偶探針可選K、S、R型（無(wú)需鎧裝）配置，不會(huì)產(chǎn)生非常大的接觸電阻
· 自動(dòng)壓力安全保護(hù)設(shè)計(jì)，進(jìn)口美國(guó)航天級(jí)硬件配置，確保測(cè)試過(guò)程中不會(huì)發(fā)生爆炸
· 測(cè)量系統(tǒng)：柱狀、片狀、長(zhǎng)方體、薄膜等系統(tǒng)
· 可選配電阻參數(shù)連續(xù)掃描功能，為其它材料體系提供相變點(diǎn)分析參考
· 可選配視頻測(cè)距功能、高電阻測(cè)試模塊
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