一、可以測試的硅材料類型
圖1-1 硅晶棒晶錠 圖1-2 多晶硅片 圖1-3 單晶硅片
圖1-4普通硅片 圖 1-4 硅塊料
二、儀器配件選配方案
硅材料電阻率、方阻測試方案選配核心的原則,一是要選擇專門測試硅材料的鎢針探頭,耐磨性好,使
用時間長,二是要知道硅材料的電阻率范圍,以便選配我公司合適的四探針測試儀。
硅材料電阻率測試的方案選配分三個方面:探頭的選配、儀器的選配、測試臺的選配。任意三件套組成
可以構成不同特色的方案,或側(cè)重價格、或側(cè)重技術精度、或適用場合或綜合考慮。
2.1 探頭的選配:由于硅材料是硬度高,表面一般較粗糙,甚至有影響測試的氧化層等,所以硅材料測試
探頭選配原則是耐磨耐用,要有一定穿透性,推薦使用ST2253-F01型碳化鎢針四探針探頭。
如圖2-1
圖 2-1 ST2253-F01 碳化鎢針探頭
市場上也有鋼針的,但是耐用壽命不如碳化鎢針。我們蘇州晶格只有鎢針的。測試探頭有臺式的可以配合在任
意一款測試臺上。圖示為SZT-C型快速恒壓四探針測試臺,也有手持式的,適合手持式測試的。
圖2-2 SZT-C測試臺
2.2 四探針測試儀選配。
四探針測試儀選配的基本原則是材料電阻率或方阻的測試范圍、測試精度,一般測試范圍不算大的可
以選M-3手持式,如果范圍測試大一點的可以選擇臺式的ST2258C,帶PC軟件的可以選擇ST2253,如果想測
試精度更好,更準一點的可以選擇雙電測ST2263,這款也帶電腦PC軟件的。這三款可以自由選配,如下圖
所示
M-3手持式四探針測試
測試范圍、分辨率
電 阻: 0.010Ω ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω
電 阻 率: 0.010Ω-cm ~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω-cm
方塊電阻: 0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω/□
量程劃分及誤差等級
M-3手持式四探針儀器 如下圖
M-3手持式是款充電式,里面是五個量程的,直接拿在手上就可以進行測試了,在車間
或出差方便攜帶。
臺式ST2258C四探針測試儀
測試范圍、分辨率
電 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×10∧3Ω, 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10∧3 Ω
(1.0×10-6 ~ 20.00×10∧3 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×10∧3 Ω)
電 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×10∧3 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10∧3 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 20.00×10∧3 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×10∧3 Ω-cm)
方塊電阻:50.0×10-6 ~ 900.0×10∧3 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×10∧3 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×10∧3 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×10∧3 Ω/□)
量程劃分及誤差等級
臺式ST2258C是款測試范圍大一點,是八檔寬量程的,手動/自動量程,帶產(chǎn)品分類功能,比
M-3手持式多幾個量程。不帶電腦pc測試軟件的,手工記錄數(shù)據(jù)。
ST2258C
臺式ST2253四探針測試儀
測試范圍、分辨率
電 阻:1×10-4~2×10∧5 Ω , 分辨率:1×10-5~1×10∧2 Ω
電阻率:1×10-4~2×10∧5 Ω-cm, 分辨率:1×10-5~1×10∧2 Ω-cm
方 阻:5×10-4~1×10∧6 Ω/□, 分辨率:5×10-5~1×10∧2 Ω/□
量程劃分及誤差
ST2253測試范圍和ST2258C是一樣的,也是八檔寬量程的。但ST2253是帶電腦PC軟件的,能夠
方便的記錄數(shù)據(jù)和儲存數(shù)據(jù)。
臺式ST2263四探針測試儀
測試范圍、分辨率
電阻率:1×10-4~2×10∧5 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×10∧2 Ω-cm
方 阻:5×10-4~1×10∧6 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×10∧2 Ω/□
電 阻:1×10-5~2×10∧5 Ω ,分辨率:1×10-6~1×10∧2 Ω
量程劃分及誤差等級
臺式ST2263如下圖 所示
臺式ST2263這款是雙電測的,誤差小,測試更精準,帶電腦PC軟件
2.3 硅材料測試四探針測試臺選配
一般測試臺可以選配我公司手動式的SZT-C,上下壓力可以手動調(diào)節(jié),SZT-A或電動SZT-B型的都
可以選擇使用。
SZT-C SZT-A SZT-B