成都東立恒達科技有限公司
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測試范圍：0.04μm～500μm 光 源：半導體激光器(波長635 nm.功率3mw.使用壽命25000小時以上) 進樣方式：濕法測試 樣品濃度：0.5‰～1%(與樣品有比重、顆粒大小、折射率有關) 測試時間：少于1分鐘/次，不含樣品分散時間 掃描速度：2000次/秒
激光粒度儀HYLK-1076是一款新型的激光粒度分布儀， 激光粒度儀HYLK-1076的測試下線可以達到40納米，主向光電接收器共71個光電池zui大探測角達21.5°；非均勻交叉排列的側向及后向光電接收器,共9個光電池，zui大角度135°。 優(yōu)異的反傅立葉光學變換設計,結合*的光路一體化結構，使光路更加穩(wěn)定；長期使用無須調整，的機械設計與加工工藝，使儀器的結構更緊湊合理，流線型的設計，美觀大方，使用與維護更為方便； 有效的屏蔽與抗干擾技術，使儀器的電氣等性能更加穩(wěn)定，結果更準確，重復性更好。 樣品編號 粒度 D10 D16 D25 D50 D84 D90 GBW（E）120009 標準值（微米） 19.1±1.47 22.8±1.53 27.0±1.80 36.7±1.57 44.5±1.95 48.9±2.73 53.1±3.54 測量值1（微米） 18.87 22.4 27.21 36.75 45.1 48.16 54.33 測量值2（微米） 18.88 22.32 27.19 36.63 45.12 48.03 54.24 SB2005 標準值（微米） 3.60±2.1 4.80±1.5 6.80±0.6 9.00±1.2 10.50±2.1 測量值1（微米） 2.34 3.56 4.42 6.69 9.06 10.25 11.23 測量值2（微米） 2.36 3.49 4.34 6.68 9.07 10.20 11.19
測試范圍：0.04μm～500μm
光 源：半導體激光器（波長635 nm.功率3mw.使用壽命25000小時以上）
進樣方式：濕法測試
樣品濃度：0.5‰～1%（與樣品有比重、顆粒大小、折射率有關）
測試時間：少于1分鐘/次，不含樣品分散時間
掃描速度：2000次/秒
重復性誤差：≦1%
電源：交流220V±10%50Hz或60Hz，功率：80W
微機接口：需計算機配合使用,標準 RS-232串行接口
操作系統(tǒng)：可在Windows所有版本的操作系統(tǒng)下運行
的HYL-300型循環(huán)送樣器（選配件）
的HYL-300型循環(huán)送樣器內制超聲、循環(huán)、攪拌、超聲定時功能。循環(huán)系統(tǒng)采用了蠕動泵的方式，不會對樣品產(chǎn)生任何污染，保證了測試數(shù)據(jù)的準確性。 有微量樣品池與循環(huán)樣品池兩種進樣方式，微量樣品池是針對一些需要用有機溶劑做介質的樣品而特殊設計；循環(huán)樣品池通常用于測試水做介質的樣品，而且這兩種進樣方式無須調換，使用非常方便。
為了滿足用戶對可追蹤的準確性及重復性的要求，我們的 激光粒度分布儀*符合ISO13320標準。全部激光粒度儀都經(jīng)驗證參考物質檢驗合格，是市場上性能的激光粒度儀。
標準物質對照表
D75
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