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Candela CS920表面缺陷檢測(cè)儀

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產(chǎn)品型號(hào)Candela CS920

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Candela CS920表面缺陷檢測(cè)儀

詳細(xì)介紹

KLA Candela光學(xué)表面缺陷分析儀（OSA）可對(duì)半導(dǎo)體及光電子材料進(jìn)行的表面檢測(cè)。Candela系列既能夠檢測(cè)Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板，又能對(duì)SiC、GaN、藍(lán)寶石和玻璃等透明材料進(jìn)行檢測(cè)，成為其制程中品質(zhì)管理及良率改善的有力工具。

Candela系列采用光學(xué)表面分析（OSA）專用技術(shù)，可同時(shí)測(cè)量散射強(qiáng)度、形狀變化、表面反射率和相位轉(zhuǎn)移，為特征缺陷（DOI）進(jìn)行自動(dòng)偵測(cè)與分類。OSA檢測(cè)技術(shù)結(jié)合散射測(cè)量、橢圓偏光、反射測(cè)量與光學(xué)形狀分析等基本原理，以非破環(huán)性方式對(duì)Wafer表面的殘留異物，表面與表面下缺陷，形狀變化和薄膜厚度的均勻性進(jìn)行檢測(cè)。Candela系列擁有的靈敏度，使用于新產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)管控，是一套成本效益的解決方案。

二、功能

主要功能

1.缺陷檢測(cè)與分類

2.缺陷分析

3.薄膜厚度測(cè)量

4.表面粗糙度測(cè)量

5.薄膜應(yīng)力檢測(cè)

技術(shù)特點(diǎn)

1.單次掃描中結(jié)合四種光學(xué)檢測(cè)方法的單機(jī)解決方案，可實(shí)現(xiàn)的自動(dòng)化缺陷檢測(cè)與分離；

2.對(duì)LED材料的缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，從而增強(qiáng)襯底的質(zhì)量管控，迅速確定造成缺陷的根本原因并改進(jìn)MOCVD品質(zhì)管控能力；

3.滿足多種工業(yè)要求，包括高亮度發(fā)光二極管（HBLED），高功率射頻電子器件，透明玻璃基板等技術(shù)；

4.在多個(gè)半導(dǎo)體材料系統(tǒng)中能更靈敏的檢測(cè)影響產(chǎn)品良率的缺陷。