產(chǎn)品展示
濟(jì)南*放大五十倍沖擊試樣缺口投影儀XT-50
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濟(jì)南時(shí)光試驗(yàn)儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)各種力學(xué)試驗(yàn)機(jī),低溫槽,缺口投影儀,缺口拉床等。如有需要,索要詳細(xì)技術(shù)資料和報(bào)價(jià),周甜甜
沖擊試樣缺口投影儀XT-50濟(jì)南時(shí)光試驗(yàn)機(jī)廠:
一、概述
XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是濟(jì)南時(shí)光試驗(yàn)儀器有限公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比,以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,對(duì)比直觀。
二、工作原理:
XT-50沖擊試樣缺口投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物體,再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。
根據(jù)需要,本儀器為單一投射照明,光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上,再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位*。
三、濟(jì)南沖擊試樣缺口投影儀XT-50主要參數(shù):
投影屏直徑: 180mm
方工作臺(tái)尺寸: 110×125mm
圓工作臺(tái)直徑: 90mm
工作臺(tái)玻璃直徑: 70mm
縱向: ±10mm
橫向: ±10mm
升降: ±12mm(無(wú)刻度)
工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍: 0-360°(無(wú)刻度)
儀器放大倍率: 50X
物鏡放大倍率: 2.5X
投影物鏡放大倍率: 20X
光源(鹵鎢燈): 12V 100W
外形尺寸: 515×224×603mm(長(zhǎng)×寬×高)
重量: 約18Kg
一、概述
XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是濟(jì)南時(shí)光試驗(yàn)儀器有限公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比,以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,對(duì)比直觀。
二、工作原理:
XT-50沖擊試樣缺口投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物體,再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。
根據(jù)需要,本儀器為單一投射照明,光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上,再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位*。
三、濟(jì)南沖擊試樣缺口投影儀XT-50主要參數(shù):
投影屏直徑: 180mm
方工作臺(tái)尺寸: 110×125mm
圓工作臺(tái)直徑: 90mm
工作臺(tái)玻璃直徑: 70mm
縱向: ±10mm
橫向: ±10mm
升降: ±12mm(無(wú)刻度)
工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍: 0-360°(無(wú)刻度)
儀器放大倍率: 50X
物鏡放大倍率: 2.5X
投影物鏡放大倍率: 20X
光源(鹵鎢燈): 12V 100W
外形尺寸: 515×224×603mm(長(zhǎng)×寬×高)
重量: 約18Kg
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