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上海勝利測試技術(shù)有限公司無損部


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涂層測厚儀

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經(jīng)營模式:經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品:18條

所在地區(qū):上海

聯(lián)系人:張洪群 (銷售)

產(chǎn)品簡介

詳細介紹

MiniTest4100系列涂層測厚儀

德國EPK公司一直致力于開發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測量儀器。作為無損涂層厚度測量領(lǐng)域的,EPK公司與各標(biāo)準(zhǔn)化組織和研究院一道,成功地推進了涂層厚度測量在世界范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)化進程。大量的技術(shù)與成果表明EPK公司是該生產(chǎn)領(lǐng)域的*。

儀器特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自
具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

MiniTest4100系列涂層測厚儀

技術(shù)指標(biāo)
型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設(shè)寬容度極限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)
-
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
-
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
-
-
-
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
-
-
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
-
其他功能
設(shè)置極限值
-
-
連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值
-
-
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
-
-
連續(xù)測量模式中顯示zui小值
-
-
可選探頭參數(shù):
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  • F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
  • N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
  • FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
zui小曲率半徑
(凸/凹)
zui小測量
區(qū)域直徑
zui小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
F05
0-500um
0.1um
±(1%±0.7um)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000um
0.2um
±(1%±1um)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000um
0.2um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5um
±(1%±10um)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10um
±(1%±10um)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10um
±(3%±50um)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm


FN1.6
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50um
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
平面
30mm
F0.5mm/N50um
φ21x89mm
FN2
0-2000um
0.2um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50um
φ15x62mm



N02
0-200um
0.1um
±(1%±0.5um)
1/10mm
2mm
50um
φ16x70mm
N.08Cr
0-80um
0.1um
±(1%±1um)
2.5mm
2mm
100um
φ15x62mm
N1.6
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
1.5/10mm
2mm
50um
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600um
0.1um
±(1%±1um)
平面/10mm
5mm
50um
φ13x13x170mm
N2
0-2000um
0.2um
±(1%±1um)
1.5/10mm
5mm
50um
φ15x62mm
N2/90
0-2000um
0.2um
±(1%±1um)
平面/10mm
5mm
50um
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10um
±(1%±25um)
25/100mm
50mm
50um
φ60x50mm
N20
0-20mm
10um
±(1%±50um)
25/100mm
70mm
50um
φ65x75mm
N100
0-100mm
100um
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50um
φ126x155mm
CN02
10-200um
0.2um
±(1%±1um)
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
  • F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
  • N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
  • CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。


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