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NSTAR-200近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)

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品       牌

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更新時間:2025-01-19 07:09:47瀏覽次數(shù):11次

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產(chǎn)品簡介

集透射和反射測量于一體,波段覆蓋780-1600nmNSTAR-200近紅外光譜透反射測量系統(tǒng)集反射和透射測量功能于一體,用于測量材料的光譜反射率/光譜透過率,測量波段范圍覆蓋780-1600nm

詳細介紹

 集透射和反射測量于一體,波段覆蓋780-1600nm

       NSTAR-200近紅外光譜透反射測量系統(tǒng)集反射和透射測量功能于一體,用于測量材料的光譜反射率/光譜透過率,測量波段范圍覆蓋780-1600nm。系統(tǒng)應用遠方公司多項技術(shù),可快速精確測量近紅外寬波段范圍內(nèi)光譜透反射率,系統(tǒng)測量靈敏度高,穩(wěn)定性、復現(xiàn)性好,雜散光小,可滿足較低透反射率的深色樣品測量,主要用于各類材料研發(fā)實驗室。

主要特點:

 兼容反射和透射測量:反射測量d/8,SCI和SCE可選;透射測量為d/0幾何;

 附NPL溯源標準色板,溯源性好;

 穩(wěn)定性好,測量精度高,滿足較低透反射率的深色樣品測量。

型號

NSTAR-2000

測量幾何

兼容透反射測量

波長范圍

780nm~1600nm

波長準確度

±0.5nm

反射率范圍

0-99%

測量重復性

0.2%

測量孔徑

反射測量:Ф28mm    透射測量:Ф20mm

接口

USB  



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