Talysurf CCI Lite - Non-contact 3D Profiler  
Automated small footprint optical measurement system  
全自動(dòng)光學(xué)測量系統(tǒng)

Talysurf CCI delivers results you can trust with industry leading performance...  
√ 強(qiáng)大而穩(wěn)定的Z軸掃描 
√ 快速自動(dòng)XY平臺(tái)與Z軸聚焦 
√ 靈活的Z軸范圍-2.2mmZ軸范圍(縫補(bǔ)功能>10mm) 
√ 精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)-標(biāo)準(zhǔn)配置超過百萬的采集數(shù)據(jù) 
√ 簡單-對所有表面都只需要一種測量模式 

基于相關(guān)相干計(jì)算法的新一代光學(xué)干涉儀*的光學(xué)測量結(jié)果同時(shí)適應(yīng)精密工業(yè)測量與研究部門

掃描干涉 
 
The  Talysurf CCI Lite 是一臺(tái)*的光學(xué)干涉儀，它采用了創(chuàng)新的，的相關(guān)相干算法，去尋找通過光學(xué)掃描得到的干涉圖象中的一致點(diǎn)與相位。  
 
靈活性 
 
The Talysurf CCI Lite 對于高精度的3D測量而言是無價(jià)的，通過采用不同的物鏡頭，可以檢測不同的表面，全自動(dòng)的工作臺(tái)能適應(yīng)高水平的靈活應(yīng)用。 
 
 
所有的表面都能夠被檢測 
 
 
Talysurf CCI Lite的好處還在于它的多功能性，無論是拋光，粗糙的，曲面的，平面的或者臺(tái)階表面，只要反射率在0.3%到99%之間，都可以在同意模式里測量，而不用擔(dān)心功能性的錯(cuò)誤。.  
 
各種材料類型都可以被測量， 如玻璃， 液體，照片，金屬，復(fù)合材料及粘膜。 
 
數(shù)據(jù)分析 
表面能夠使用國際通用的數(shù)據(jù)，被量化地分析三維與二維的表面數(shù)據(jù)， 區(qū)域與容積數(shù)據(jù)

 
?  120種E二維參數(shù)，40種三維參數(shù)alysurf    CCI Lite System Specifications系統(tǒng)參數(shù) ?  計(jì)數(shù)與分類 
?  自動(dòng)臺(tái)階高度測量t 
 
自動(dòng)操作 
標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)控制， 可編程的XYZ平臺(tái)及自動(dòng)聚焦， 能夠非常容易地測量單一表面或復(fù)雜形狀。 XYZ縫補(bǔ)功能更滿足了形狀陡峭的表面與大面積測量的需要。