整體說明：
ZDK-III中空玻璃露點儀適用標準GB/T11944－2012《中空玻璃》關于露點測定部分，用于檢測中空玻璃試樣內(nèi)表面在標準規(guī)定條件和方法情況下是否結露，同時也是對中空玻璃的氣密性參數(shù)的驗證。適用于大專院校、科研單位、中空玻璃生產(chǎn)企業(yè)以及相關第三方檢測單位。
一、產(chǎn)品描述
ZDK-III中空玻璃露點儀是根據(jù)標準GB/T11944－2012《中空玻璃》關于露點測定部分規(guī)定的技術條件制造的一種儀器。用于檢測中空玻璃試樣內(nèi)表面在標準規(guī)定條件和方法情況下是否結露的一款自動型檢測設備，同時還可以檢測中空玻璃的氣密性的優(yōu)劣，在*理想的密閉情況下，中空玻璃不應該產(chǎn)生結露。ZDK-III露點儀采用半導體三級制冷，低溫可以達到-70℃，操作簡單，只需要220V電源，不需要其他輔助設備，降溫速度快冷量大，同時配有計時功能，可以自動提示，使試驗更加方便簡單。
二、符合標準
GB/50411-2019《建筑節(jié)能工程施工質(zhì)量驗收標準》
GB/T11944－2012《中空玻璃》
三、中空玻璃露點儀技術參數(shù)
1、溫度顯示PID高精度數(shù)顯表
2、溫度范圍-70℃-室溫任意設定控溫精度：±0.1℃
3、示值誤差±0.2℃
4、分辨率±0.1℃
5、制冷方式三級制冷測量頭直徑：50mm；
6、制冷介質(zhì)502制冷劑
7、試件尺寸510mm×360mm
8、試驗環(huán)境濕度30%~75%RH
9、試驗環(huán)境溫度23℃±2℃
10、電壓220V重量20KG外形尺寸（mm）：430×360×650
四、產(chǎn)品特點
1、采用半導體三級制冷的技術，制冷溫度可以設定和控制。制冷速度快、操作十分方便。不僅可以在實驗室內(nèi)使用而且可以在現(xiàn)場檢測，不需要使用容易揮發(fā)的干冰，使用方便且使用成本低廉。
2、集成了半導體致冷和機械制冷混合控制系統(tǒng)，實現(xiàn)全過程自動控制。
3、采用Pt1000溫度傳感器，PID自動調(diào)節(jié)技術，所以測量精度高，測量穩(wěn)定性高
4、側(cè)頭采用純銅材質(zhì)，內(nèi)置三級半導體制冷片，外設雙重保溫材料，硅膠隔離確保真空氣密。
五、質(zhì)量服務承諾：
1、質(zhì)保期一年，終生免費維護。
2、在質(zhì)保期內(nèi)，除人為因素外，任何因儀器設計、材料或工藝不當引起的缺陷、故障我們免費修理或更換。
3、接到用戶通知所提供的儀器出現(xiàn)故障后，十分鐘內(nèi)回應.
4、保證及時向用戶以優(yōu)惠的價格提供所需的備品備件和易耗品。
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